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檢驗方法
1.1條碼檢驗在克服傳統(tǒng)檢測方法缺陷的基礎上，目前已發(fā)展采用條碼綜合質量分級法，即“反射率曲線分析法”。綜合分級方法根據掃描反射率曲線和參考譯碼算法進行分析、判斷，把外觀上的缺陷轉換成缺陷（Defects）、邊緣判定等參數。檢驗結果給出的是條碼符號的等級，表明條碼符號的適用場合。 2.1 掃描反射率曲線 掃描反射率曲線是用掃描器對一個條碼符號掃描時，掃描器探測到條碼符號的反射率，反射率值與掃描位置有關。若掃描線是垂直于條的直線，則反射率是以掃描起點為端點的、橫過整個條碼符號的距離（或線性位置）的函數。以橫坐標代表距離或線性位置，以縱坐標代表反射率，可以畫出掃描過程中反射率值與線性位置的關系曲線即所謂的掃描反射率曲線，見下圖。
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b 最高反射率(R max )： 掃描反射率曲線上最高的反射率值。 d 總閾值(GT—Global Threshold)： 用以在掃描反射率曲線上區(qū)分條、空的一個標準反射率值。掃描反射率曲線在總閾值線上方所包的那些區(qū)域，即空；在總閾值線下方所包的那些區(qū)域，即條?；?。 e 條反射率(R b)： 掃描反射率曲線上某條的最低反射率值。 f 空反射率(R s)： 掃描反射率曲線上某空的最高反射率值。 g 單元(element)： 泛指條碼符號中的條或空。 h 單元邊緣 (element edge)： 掃描反射率曲線上過毗鄰單元（包括空白區(qū)）的空反射率（ R s ）和條反射率（R b ）中間值（即 ）的點的位置。
i 邊緣判定(edge determination)： 按單元邊緣的定義判定掃描反射率曲線上的單元邊緣。如果兩毗鄰單元之間有多于一個代表單元邊緣的點存在，或有邊緣丟失，則該掃描反射率曲線為不合格?？瞻讌^(qū)和字符間隔視為空。
k 最小邊緣反差(EC min)： 掃描反射率曲線上所有邊緣反差中的最小值。
m 單元反射率不均勻性(ERN)： 某一單元中最高反射率與最低反射率的差。
o 可譯碼性(decodability)： 與適當的參考譯碼算法相關的條碼符號印制精度的量度。
2.3 條碼符號質量評定
3、檢測設備 |
